著航天技術的不斷發展，泄漏問題已經成為航天產品設計製造中必須考慮的關鍵因素，越來越多的收到各方關注，相關電子元器件漏率檢測已經引起科研人員的高度重視，目前應用檢漏技術的主要是為密封繼電器、集成電路外殼。

利用麻豆自拍视频可以方便地對密封繼電器作漏率測定。針對不同的產品，采用合適的檢漏方法。

目前軍用密封繼電器的漏率檢測主要是GJB360A-96的112實驗程序。實驗程序中明確規定了密封繼電器的檢漏條件及步驟，本次主要討論背壓法檢漏屬於檢漏步驟中的細檢漏。

繼電器的背壓檢漏法一般分為三步：1加氦壓：將被檢繼電器放入充氦的壓力罐中；2淨化：從壓力罐中取出繼電器，用氮氣流或者空氣流吹淨繼電器表麵吸附的氦氣。3檢漏：將繼電器放入檢漏儀的檢漏盒中進行檢測，若繼電器有漏，壓入內腔的氦氣會經過漏孔進入檢漏儀，儀器上會有漏率顯示。

在GJB360A-96中明確規定，選擇的加壓壓力，加壓時間，最大停留時間應使被檢樣品的規定漏率大於檢漏儀的最小可檢漏率。因為漏孔太大時，加氦壓時壓入的氦氣在檢漏前的抽真空狀態就已抽光，故撿不到氦。可以用氟油法進行粗檢漏，以檢驗大漏孔的存在。